Internetowy „Raport tematyczny 520 Światowego Dnia Metrologii” doskonale prowadzony!

Gospodarz: IMiędzynarodowy Komitet Współpracy Zhongguancun Inspekcji i Certyfikacji Sojuszu Technologii Przemysłowych

Zorganizowane przez:Tai'an PANRAN Measurement and Control Technology Co., Ltd.

18 maja o godzinie 13:30 odbyło się internetowe „Raport tematyczny 520 Światowego Dnia Metrologii”, którego gospodarzem był Komitet Współpracy Międzynarodowej Zhongguancun Inspection and Certification Industrial Technology Alliance i zorganizowany przez Tai'an Panran Measurement and Control Technology Co., Ltd. jak zaplanowano.Przewodniczący sojuszu Yao Hejun (Dziekan Pekińskiego Instytutu Nadzoru i Kontroli Jakości Produktów), Han Yu (Dyrektor ds. Rozwoju Strategicznego Grupy CTI), Przewodniczący Specjalnego Komitetu Sojuszu, Zhang Jun (Prezes Taian Panran Measurement and Control Technology Co., Ltd.), Wiceprzewodniczący Menedżera Specjalnego Komitetu Sojuszu) i ponad 120 jednostek członkowskich sojuszu, w spotkaniu raportowym wzięło udział blisko 300 osób.

Spotkanie sprawozdawcze odbyło się z okazji ważnego międzynarodowego festiwalu 520. Światowego Dnia Metrologii.Jednocześnie zbiegło się to z „Działalnościami Komitetu Specjalnego w Roku Zaawansowanych Technologii” zainicjowanymi przez Komitet Współpracy Międzynarodowej Sojuszu w 2023 r.

Li Wenlong, inspektor drugiego stopnia Departamentu Akredytacji, Inspekcji i Nadzoru Badań Państwowej Administracji ds. Regulacji Rynku, Li Qianmu, wiceprezes Stowarzyszenia Nauki i Technologii Jiangsu, rosyjski naukowiec zagraniczny, profesor Li Qianmu, starszy inżynier ( lekarz) Ge Meng z 102 R&D Center i 304 Institute Wu Tengfei, zastępca głównego badacza (lekarz) kluczowego laboratorium, Zhou Zili, starszy dyrektor i badacz China Aeronautical Research Institute, były zastępca dyrektora 304 Institute, Hu Dong , starszy inżynier (lekarz) instytutu 304 oraz wielu ekspertów w dziedzinie metrologii i inspekcji, dzieląc się swoimi wynikami badań i doświadczeniem, pozwalają nam lepiej zrozumieć znaczenie i zastosowanie pomiaru we współczesnym społeczeństwie.

01 Część mowy

Na początku spotkania przemówienia wygłosili Yao Hejun, przewodniczący sojuszu, Han Yu, przewodniczący specjalnego komitetu sojuszu i Zhang Jun (organizator), wiceprzewodniczący specjalnego komitetu sojuszu.

YAO HE JUN

Przewodniczący Yao Hejun złożył gratulacje z okazji zwołania tego spotkania w imieniu Sojuszu na rzecz Inspekcji, Testowania i Certyfikacji Przemysłu Technologicznego Zhongguancun i podziękował wszystkim przywódcom i ekspertom za ich długoterminowe wsparcie i troskę o prace sojuszu.Przewodniczący Yao zwrócił uwagę, że Specjalny Komitet Sojuszu ds. Współpracy Międzynarodowej będzie zawsze kierował się konotatywną koncepcją rozwoju polegającą na opieraniu się na postępie naukowym i technologicznym w celu wsparcia budowy silnego kraju oraz będzie w dalszym ciągu pogłębiać rolę innowacji naukowych i technologicznych w demonstracja prowadzenia i prowadzenia.

Ten rok jest rokiem zaawansowanych technologii Specjalnego Komitetu Sojuszu ds. Współpracy Międzynarodowej.Specjalna komisja planuje zorganizować międzynarodowe seminarium na temat mechaniki kwantowej i metrologii, zaprosić przewodniczącego Międzynarodowego Komitetu Metrologii do złożenia wizyty w Chinach oraz przeprowadzić szereg działań, takich jak spotkanie założycielskie komisji specjalnej.Specjalna komisja ma nadzieję zbudować międzynarodową platformę umożliwiającą wymianę informacji, szeroką wymianę i wspólny rozwój, przyciąganie wybitnych talentów w kraju i za granicą oraz obsługę przedsiębiorstw zajmujących się inspekcją, testowaniem, certyfikacją oraz produkcją przyrządów i sprzętu, z międzynarodową wizją, standardami i sposobem myślenia, i realizować wzajemne konsultacje, rozwój i korzyści dla obu stron.

HAN YU

Dyrektor Han Yu powiedział, że umiejscowienie powołania specjalnej komisji obejmuje trzy następujące aspekty: Po pierwsze, specjalna komisja to kompleksowa platforma integrująca kalibrację pomiarów, standardy, certyfikację inspekcji i testowania oraz producentów przyrządów i stanowi obszerną koncepcję platforma pomiarowa.Platforma integruje produkcję, edukację, badania i aplikacje.Po drugie, komisja specjalna jest międzynarodową platformą wymiany informacji branżowych zaawansowanych technologii, która przekazuje zaawansowane na arenie międzynarodowej koncepcje i trendy badań naukowych w branży metrologii i testowania.W 2023 r. specjalna komisja przeprowadziła wiele prac naukowo-badawczych i udostępniła zaawansowane informacje z badań naukowych.Po trzecie, komisja specjalna jest platformą o najwyższym stopniu interakcji i uczestnictwa wśród członków.Niezależnie od tego, czy chodzi o kalibrację pomiarów, standardy, inspekcje i certyfikację, czy o producentów przyrządów, każdy członek może znaleźć swoje własne stanowisko i pokazać swoje umiejętności i styl.

Mamy nadzieję, że dzięki tej wszechstronnej platformie krajowe talenty w dziedzinie pomiarów i kalibracji, norm, certyfikacji inspekcji i testowania, projektowania przyrządów, badań i rozwoju oraz produkcji będą mogły połączyć się w celu wspólnego badania i omawiania kierunku rozwoju oraz najnowocześniejszych technologii kontroli i branży badawczej i przyczyniać się do postępu technologicznego tej branży.

ZHANG CZER

Zhang Jun, zastępca dyrektora specjalnej komisji sojuszu biorącej udział w tym spotkaniu sprawozdawczym, wyraził zaszczycenie firmy podczas spotkania sprawozdawczego w imieniu organizatora (Tai'an PANRAN Measurement and Control Technology Co., Ltd.) i wyraził szacunek firmy dla liderzy, eksperci i uczestnicy online.Serdecznie witamy i serdecznie dziękujemy delegatom.PANRAN od 30 lat zajmuje się badaniami i rozwojem oraz produkcją przyrządów do pomiaru temperatury i ciśnienia.Jako przedstawiciel tej branży firma angażuje się w rozwój międzynarodowy i aktywnie promuje współpracę międzynarodową.Pan Zhang powiedział, że PANRAN jest dumny z bycia zastępcą dyrektora jednostki Komitetu Współpracy Międzynarodowej Sojuszu i będzie aktywnie uczestniczyć w różnych zadaniach.Jednocześnie chciałbym podziękować komisji specjalnej za wszechstronne wsparcie i pomoc w poznaniu i zrozumieniu doświadczeń produkcyjnych międzynarodowych produktów metrologicznych.

02 Sekcja Raportów

Raportem podzieliło się czterech ekspertów, a mianowicie:Li Wenlonga, inspektor drugiego stopnia Departamentu Akredytacji, Kontroli i Nadzoru Badań Państwowej Administracji ds. Regulacji Rynku;) Li Qianmu, wiceprezes Stowarzyszenia Naukowego Jiangsu, rosyjski naukowiec zagraniczny i profesor;Ge Meng, starszy inżynier (lekarz) 102 ośrodków badawczo-rozwojowych;Wu Tengfei, zastępca głównego badacza (lekarza) 304 kluczowych laboratoriów.

LI WEN LONG

Dyrektor Li Wenlong, inspektor drugiego stopnia w Departamencie Akredytacji, Inspekcji i Nadzoru Badań Państwowej Administracji Regulacji Rynku, sporządził raport programowy na temat „Droga do wysokiej jakości rozwoju chińskich instytucji kontrolujących i testujących”.Dyrektor Li Wenlong jest nie tylko wysokiej klasy naukowcem w chińskiej branży inspekcji i testowania, ale także obserwatorem palących problemów w dziedzinie inspekcji i testowania oraz stróżem rozwoju chińskich instytucji inspekcji i testowania.Sukcesywnie opublikował kilka artykułów z serii „W imię narodu” oraz „Wzrost i rozwój chińskich instytucji kontrolno-testujących w ramach wielkiego rynku, wielkiej jakości i nadzoru”, które wywołały ogromne reperkusje w branży i stać się kluczem do bramy do wzrostu i rozwoju chińskich instytucji kontrolujących i testujących i ma wysoką wartość historyczną.

W swoim raporcie dyrektor Li szczegółowo przedstawił historię rozwoju, charakterystykę, problemy i wyzwania chińskiego rynku (instytucji) inspekcji i testowania, a także przyszły kierunek rozwoju.Dzięki informacjom dyrektora Li każdy ma szczegółową wiedzę na temat kontekstu historycznego i trendów w rozwoju chińskiej kontroli jakości i testowania.

LI QIAN MU

W obecnym kontekście dużych zbiorów danych proces informatyzacji przemysłu metrologicznego osiągnął szybki rozwój i postęp, usprawniając gromadzenie i stosowanie danych metrologicznych, maksymalizując wartość danych metrologicznych oraz zapewniając korzystne technologie dla rozwoju i innowacji technologii metrologicznej .Profesor Li Qianmu, wiceprzewodniczący Stowarzyszenia Nauki i Technologii prowincji Jiangsu, rosyjski naukowiec zagraniczny, przedstawił raport zatytułowany „Zbieranie i analiza ruchu sieciowego o bardzo dużej skali”.W raporcie, poprzez rozkład pięciu treści badawczych i proces integracji technologii, wyniki gromadzenia i analizy ruchu są widoczne dla każdego.

GE MEN

WU TENG FEI

Aby umożliwić praktykom w dziedzinie pomiarów zrozumienie postępu podstawowych badań teoretycznych w dziedzinie pomiarów oraz podzielenie się koncepcją i doświadczeniem międzynarodowego pogranicza w dziedzinie metrologii, dr Ge Meng ze 102. Instytutu i dr Wu Tengfei z 304. Instytutu przedstawił specjalne raporty, pokazujące wpływ mechaniki kwantowej na pomiary.

Dr Ge Meng, starszy inżynier z Instytutu 102, przedstawił raport zatytułowany „Analiza rozwoju technologii mechaniki kwantowej i metrologii”.W raporcie przedstawiono konotację i rozwój metrologii, mechaniki kwantowej i metrologii kwantowej, rozwój i zastosowanie technologii metrologii kwantowej, przeanalizowano skutki rewolucji kwantowej oraz rozważono problemy mechaniki kwantowej.

Dr Wu Tengfei, zastępca dyrektora i badacz 304 Key Laboratory, przedstawił raport zatytułowany „Dyskusja na temat kilku zastosowań technologii częstotliwości lasera femtosekundowego w dziedzinie metrologii”.Dr Wu zwrócił uwagę, że grzebień częstotliwości lasera femtosekundowego, jako ważne standardowe urządzenie łączące częstotliwość optyczną i radiową, będzie w przyszłości stosowany w większej liczbie dziedzin.W przyszłości będziemy nadal prowadzić dogłębne badania w dziedzinie metrologii i pomiarów bardziej wieloparametrowych w oparciu o tę książkę częstotliwości, odgrywając ważniejszą rolę i wnosząc większy wkład w szybką promocję powiązanych dziedzin metrologii.

03 Sekcja wywiadów dotycząca technologii metrologicznych

Do niniejszego raportu zaproszono dr Hu Donga, starszego inżyniera z 304 Institutes, do przeprowadzenia ekskluzywnego wywiadu z Zhou Zili, dyrektorem wyższego szczebla Chińskiego Instytutu Badań Aeronautycznych, na temat „Znaczenie teorii mechaniki kwantowej dla rozwoju pola pomiarowego” na temat badań nad mechaniką kwantową.

Rozmówca, pan Zhou Zili, jest członkiem kadry kierowniczej wyższego szczebla i badaczem w Chińskim Instytucie Badań Aeronautycznych oraz byłym zastępcą dyrektora 304. Instytutu Chińskiego Przemysłu Lotniczego.Pan Zhou od dawna zajmuje się połączeniem metrologicznych badań naukowych i zarządzania metrologicznego.Przewodniczył wielu metrologicznym projektom naukowo-badawczym, w szczególności projektowi „Monitorowanie połączeń rur zanurzonych w projekcie tunelu na wyspie mostu Hongkong-Zhuhai-Makao”.Pan Zhou Zili jest dobrze znanym ekspertem w naszej dziedzinie metrologii.Do niniejszego raportu zaproszono pana Zhou do przeprowadzenia wywiadu tematycznego na temat mechaniki kwantowej.Połączenie wywiadów może dać nam głębsze zrozumienie mechaniki kwantowej.

Nauczyciel Zhou szczegółowo wyjaśnił koncepcję i zastosowanie pomiaru kwantowego, przedstawił krok po kroku zjawiska kwantowe i zasady kwantowe z otoczenia życia, wyjaśnił pomiar kwantowy w prosty sposób oraz poprzez zademonstrowanie iteracji kwantowej, splątania kwantowego i komunikacji kwantowej i inne koncepcje, ukazuje kierunek rozwoju pomiarów kwantowych.Napędzana mechaniką kwantową dziedzina metrologii stale się rozwija.Zmienia istniejący system transmisji masy, umożliwiając płaską transmisję kwantową i standardy metrologii oparte na chipach.Zmiany te przyniosły nieograniczone możliwości rozwoju społeczeństwa cyfrowego.

W epoce cyfrowej znaczenie metrologii nigdy nie było większe.Raport ten dogłębnie omówi zastosowanie i innowacyjność big data i mechaniki kwantowej w wielu dziedzinach oraz wskaże nam przyszły kierunek rozwoju.Jednocześnie przypomina nam o wyzwaniach, przed którymi stoimy, i problemach, które należy rozwiązać.Te dyskusje i spostrzeżenia będą miały istotny wpływ na przyszłe badania naukowe i praktykę.

Z niecierpliwością czekamy na kontynuację aktywnej współpracy i wymiany w celu wspólnego promowania rozwoju nauk metrologicznych.Tylko dzięki naszym wspólnym wysiłkom możemy wnieść znaczący wkład w budowanie bardziej naukowej, sprawiedliwej i zrównoważonej przyszłości.Idźmy ramię w ramię, nadal dzielmy się pomysłami, wymieniajmy doświadczeniami i twórzmy więcej możliwości.

Na koniec jeszcze raz pragniemy serdecznie podziękować każdemu prelegentowi, organizatorowi i uczestnikowi.Dziękuję za Waszą ciężką pracę i wsparcie w przygotowaniu tego raportu.Przekażmy wyniki tego wydarzenia szerszemu gronu odbiorców i niech świat pozna urok i znaczenie nauk ilościowych.Nie mogę się doczekać ponownego spotkania w przyszłości i wspólnego stworzenia wspanialszego jutra!