Prowadzący: IMiędzynarodowy Komitet Współpracy Sojuszu Technologii Przemysłowych Zhongguancun Inspection and Certification
Zorganizowane przez:Tai'an PANRAN Measurement and Control Technology Co., Ltd.
O godzinie 13:30, 18 maja, zgodnie z planem, odbyło się internetowe spotkanie „Raport Tematyczny 520 Światowego Dnia Metrologii”, zorganizowane przez Międzynarodowy Komitet Współpracy Sojuszu Technologii Przemysłowych Zhongguancun Inspection and Certification, a zorganizowane przez Tai'an Panran Measurement and Control Technology Co., Ltd. W spotkaniu wzięli udział przewodniczący sojuszu Yao Hejun (dziekan Pekińskiego Instytutu Nadzoru Jakości Produktów i Kontroli), Han Yu (dyrektor ds. rozwoju strategicznego w CTI Group), przewodniczący Specjalnego Komitetu Sojuszu, Zhang Jun (prezes Taian Panran Measurement and Control Technology Co., Ltd., wiceprzewodniczący Specjalnego Komitetu Sojuszu) oraz ponad 120 jednostek członkowskich sojuszu. W spotkaniu wzięło udział blisko 300 osób.
Spotkanie sprawozdawcze odbyło się z okazji ważnego międzynarodowego święta, jakim jest Światowy Dzień Metrologii 520. Jednocześnie zbiegło się ono z „Działaniami Komitetu Specjalnego z okazji Roku Zaawansowanych Technologii”, zainicjowanymi przez Międzynarodowy Komitet Współpracy Sojuszu w 2023 roku.
Li Wenlong, inspektor drugiego stopnia w Departamencie Akredytacji oraz Nadzoru Kontroli i Testowania Państwowej Administracji Regulacji Rynku, Li Qianmu, wiceprzewodniczący Stowarzyszenia Nauki i Technologii Jiangsu, rosyjski naukowiec zagraniczny, profesor Li Qianmu, starszy inżynier (doktor) Ge Meng z Centrum Badań i Rozwoju 102 i Instytutu 304 Wu Tengfei, zastępca głównego badacza (doktor) kluczowego laboratorium, Zhou Zili, starszy dyrektor i badacz z Chińskiego Instytutu Badań Lotniczych, były zastępca dyrektora Instytutu 304, Hu Dong, starszy inżynier (doktor) z Instytutu 304, oraz wielu ekspertów w dziedzinie metrologii i kontroli, dzieląc się swoimi wynikami badań i doświadczeniem, pozwalają nam lepiej zrozumieć znaczenie i zastosowanie pomiarów we współczesnym społeczeństwie.
01 Część mowy
Spotkanie rozpoczęło się od przemówień, które wygłosili: Yao Hejun – przewodniczący sojuszu, Han Yu – przewodniczący specjalnego komitetu sojuszu oraz Zhang Jun (organizator), wiceprzewodniczący specjalnego komitetu sojuszu.
YAO HE JUN
Przewodniczący Yao Hejun złożył gratulacje z okazji zwołania tego spotkania w imieniu Sojuszu Technologii Przemysłowych Zhongguancun Inspection, Testing and Certification, a także podziękował wszystkim liderom i ekspertom za ich wieloletnie wsparcie i troskę o pracę sojuszu. Przewodniczący Yao podkreślił, że Specjalny Komitet Współpracy Międzynarodowej Sojuszu będzie zawsze przestrzegać koncepcji rozwoju konotacyjnego, polegającej na wykorzystaniu postępu naukowego i technologicznego w celu wspierania budowy silnego kraju, i będzie nadal pogłębiać rolę innowacji naukowych i technologicznych w przewodzeniu i napędzaniu demonstracji.
Ten rok jest rokiem zaawansowanych technologii dla Specjalnego Komitetu Współpracy Międzynarodowej Sojuszu. Komitet specjalny planuje zorganizować międzynarodowe seminarium na temat mechaniki kwantowej i metrologii, zaprosić przewodniczącego Międzynarodowego Komitetu Metrologii do Chin oraz zorganizować szereg wydarzeń, takich jak spotkanie założycielskie komitetu specjalnego. Komitet specjalny ma nadzieję zbudować międzynarodową platformę wymiany informacji, szerokiej wymiany i wspólnego rozwoju, przyciągnąć wybitne talenty z kraju i z zagranicy oraz służyć przedsiębiorstwom zajmującym się inspekcją, testowaniem, certyfikacją oraz produkcją instrumentów i sprzętu, kierując się międzynarodową wizją, standardami i sposobem myślenia, a także realizować wzajemne konsultacje, rozwój i zasadę obopólnych korzyści.
HAN YU
Dyrektor Han Yu powiedział, że pozycjonowanie powołania specjalnego komitetu ma następujące trzy aspekty: Po pierwsze, specjalny komitet jest kompleksową platformą integrującą kalibrację pomiarów, normy, inspekcję i certyfikację testów oraz producentów przyrządów, i jest dużą koncepcją platformy pomiarowej. Platforma integruje produkcję, edukację, badania i zastosowania. Po drugie, specjalny komitet jest międzynarodową platformą wymiany informacji o branży high-tech, która przekazuje zaawansowane międzynarodowo koncepcje i trendy badań naukowych w branży metrologii i testowania. W 2023 roku specjalny komitet przeprowadził wiele prac badawczych i udostępnił zaawansowane informacje naukowe. Po trzecie, specjalny komitet jest platformą o najwyższym stopniu interakcji i uczestnictwa wśród członków. Niezależnie od tego, czy chodzi o kalibrację pomiarów, normy, inspekcję i certyfikację, czy producentów przyrządów, każdy członek może znaleźć swoje własne stanowisko i zaprezentować swoje umiejętności i styl.
Mamy nadzieję, że dzięki tej kompleksowej platformie krajowe talenty w dziedzinie pomiarów i kalibracji, norm, inspekcji i certyfikacji testów, projektowania instrumentów, prac badawczo-rozwojowych i produkcji będą mogły spotkać się, aby wspólnie badać i omawiać kierunki rozwoju oraz najnowocześniejsze technologie branży inspekcji i testów, a także przyczyniać się do postępu technologicznego w branży.
ZHANG CZER
Zhang Jun, zastępca dyrektora specjalnego komitetu sojuszu ds. tego spotkania sprawozdawczego, wyraził uznanie firmy podczas spotkania sprawozdawczego w imieniu organizatora (Tai'an PANRAN Measurement and Control Technology Co., Ltd.) oraz szacunek firmy dla liderów, ekspertów i uczestników online. Serdecznie witamy i składamy serdeczne podziękowania delegatom. PANRAN od 30 lat angażuje się w badania i rozwój oraz produkcję przyrządów do pomiaru temperatury i ciśnienia. Jako przedstawiciel tej branży, firma angażuje się w rozwój międzynarodowy i aktywnie promuje współpracę międzynarodową. Pan Zhang powiedział, że PANRAN jest dumny z bycia zastępcą dyrektora jednostki Międzynarodowego Komitetu Współpracy Sojuszu i będzie aktywnie uczestniczył w różnych zadaniach. Jednocześnie chciałbym podziękować specjalnemu komitetowi za wszechstronne wsparcie i pomoc w poznawaniu i zrozumieniu doświadczenia produkcyjnego międzynarodowych produktów metrologicznych.
02 Sekcja raportu
Raport udostępniło czterech ekspertów, a mianowicie:Li Wenlonga, inspektor drugiego stopnia Departamentu Akredytacji, Kontroli i Nadzoru Badawczego Państwowej Administracji Regulacji Rynku; ) Li Qianmu, wiceprzewodniczący Stowarzyszenia Naukowego Jiangsu, rosyjski naukowiec zagraniczny i profesor;Ge Meng, starszy inżynier (doktor) w 102 ośrodkach badawczo-rozwojowych;Wu Tengfei, zastępca głównego badacza (doktor) 304 kluczowych laboratoriów.
LI WEN LONG
Dyrektor Li Wenlong, inspektor drugiego stopnia Departamentu Akredytacji, Inspekcji i Nadzoru Badawczego Państwowej Administracji Regulacji Rynku, wygłosił referat pt. „Droga do rozwoju wysokiej jakości chińskich instytucji inspekcyjnych i badawczych”. Dyrektor Li Wenlong jest nie tylko wybitnym uczonym w chińskiej branży inspekcyjnej i badawczej, ale także obserwatorem gorących kwestii w tej dziedzinie oraz strażnikiem rozwoju chińskich instytucji inspekcyjnych i badawczych. Opublikował kilka artykułów z serii „W imieniu ludu” oraz „Wzrost i rozwój chińskich instytucji inspekcyjnych i badawczych w warunkach dużego rynku, wysokiej jakości i nadzoru”, które odbiły się szerokim echem w branży i stały się kluczem do rozwoju chińskich instytucji inspekcyjnych i badawczych, a także mają wysoką wartość historyczną.
W swoim raporcie Dyrektor Li szczegółowo przedstawił historię rozwoju, charakterystykę, problemy i wyzwania chińskiego rynku inspekcji i testowania (instytucji), a także przyszłe kierunki rozwoju. Dzięki dzieleniu się informacjami przez Dyrektora Li wszyscy uczestnicy uzyskali szczegółowe zrozumienie kontekstu historycznego i trendów rozwoju chińskiej inspekcji i testowania jakości.
LI QIAN MU
W dobie big data, proces informatyzacji branży metrologicznej osiągnął szybki rozwój i postęp, usprawniając gromadzenie i wykorzystanie danych metrologicznych, maksymalizując ich wartość oraz dostarczając korzystne technologie dla rozwoju i innowacji w dziedzinie metrologii. Profesor Li Qianmu, wiceprzewodniczący Stowarzyszenia Nauki i Technologii Prowincji Jiangsu, rosyjski naukowiec zagraniczny, wygłosił referat zatytułowany „Gromadzenie i analiza ruchu sieciowego o bardzo dużej skali”. W referacie, poprzez dekompozycję pięciu tematów badawczych i proces integracji technologii, zaprezentowano wszystkim wyniki gromadzenia i analizy ruchu.
GE MEN
WU TENG FEI
Aby umożliwić praktykom zajmującym się pomiarami zrozumienie postępu podstawowych badań teoretycznych w dziedzinie pomiarów oraz dzielenie się koncepcjami i doświadczeniami międzynarodowych pionierów w dziedzinie metrologii, dr Ge Meng ze 102. Instytutu i dr Wu Tengfei z 304. Instytutu przedstawili specjalne raporty, w których przedstawili wpływ mechaniki kwantowej na pomiary.
Dr Ge Meng, starszy inżynier z Instytutu 102, przedstawił referat zatytułowany „Analiza rozwoju mechaniki kwantowej i technologii metrologii”. W referacie przedstawiono konotacje i rozwój metrologii, mechaniki kwantowej i metrologii kwantowej, a także rozwój i zastosowanie technologii metrologii kwantowej. Przeanalizowano wpływ rewolucji kwantowej oraz poruszono problemy mechaniki kwantowej.
Dr Wu Tengfei, zastępca dyrektora i badacz z 304 Key Laboratory, wygłosił referat zatytułowany „Dyskusja na temat kilku zastosowań technologii częstotliwości lasera femtosekundowego w dziedzinie metrologii”. Dr Wu zwrócił uwagę, że grzebień częstotliwości lasera femtosekundowego, jako ważne urządzenie standardowe łączące częstotliwość optyczną i radiową, znajdzie w przyszłości zastosowanie w większej liczbie dziedzin. W przyszłości będziemy kontynuować dogłębne badania w dziedzinie metrologii i pomiarów wieloparametrowych w oparciu o tę książkę częstotliwości, odgrywając ważniejszą rolę i wnosząc większy wkład w szybki rozwój pokrewnych dziedzin metrologii.
03 Sekcja wywiadów z technologii metrologii
W niniejszym raporcie dr Hu Dong, starszy inżynier z 304 Institutes, przeprowadził ekskluzywny wywiad z Zhou Zili, starszym dyrektorem China Aeronautical Research Institute, na temat „Znaczenia teorii mechaniki kwantowej dla rozwoju dziedziny pomiarów” w zakresie badań nad mechaniką kwantową.
Osoba udzielająca wywiadu, pan Zhou Zili, jest starszym dyrektorem i badaczem w Chińskim Instytucie Badań Lotniczych (China Aeronautical Research Institute) oraz byłym zastępcą dyrektora 304. Instytutu Przemysłu Lotniczego Chin. Pan Zhou od dawna zajmuje się łączeniem badań naukowych z zakresu metrologii i zarządzania metrologią. Przewodniczył wielu projektom naukowo-metrologicznym, w szczególności projektowi „Monitorowanie połączeń rur zanurzonych w projekcie tunelu na wyspie mostowej Hongkong-Zhuhai-Makau”. Pan Zhou Zili jest uznanym ekspertem w dziedzinie metrologii. W niniejszym raporcie pan Zhou przeprowadził tematyczny wywiad na temat mechaniki kwantowej. Połączenie tych wywiadów może pozwolić nam na głębsze zrozumienie mechaniki kwantowej.
Nauczyciel Zhou szczegółowo wyjaśnił koncepcję i zastosowanie pomiaru kwantowego, krok po kroku przedstawił zjawiska i zasady kwantowe w kontekście otaczającego nas świata, w prosty sposób wyjaśnił pomiar kwantowy, a poprzez demonstrację iteracji kwantowej, splątania kwantowego, komunikacji kwantowej i innych koncepcji, wskazał kierunek rozwoju pomiaru kwantowego. Metrologia, napędzana mechaniką kwantową, stale się rozwija. Zmienia ona istniejący system transmisji masowej, umożliwiając płaską transmisję kwantową i standardy metrologii opartej na chipach. Rozwój ten przyniósł nieograniczone możliwości rozwoju społeczeństwa cyfrowego.
W dobie cyfrowej znaczenie metrologii naukowej nigdy nie było większe. Niniejszy raport dogłębnie omówi zastosowanie i innowacyjność dużych zbiorów danych oraz mechaniki kwantowej w wielu dziedzinach, a także wskaże nam przyszłe kierunki rozwoju. Jednocześnie przypomina nam o wyzwaniach, przed którymi stoimy, i problemach, które należy rozwiązać. Te dyskusje i spostrzeżenia będą miały istotny wpływ na przyszłe badania naukowe i praktykę.
Z niecierpliwością oczekujemy dalszej aktywnej współpracy i wymiany, aby wspólnie promować rozwój metrologii. Tylko dzięki wspólnym wysiłkom możemy wnieść istotny wkład w budowanie bardziej naukowej, sprawiedliwej i zrównoważonej przyszłości. Działajmy ramię w ramię, kontynuujmy wymianę pomysłów, doświadczeń i twórzmy nowe możliwości.
Na koniec pragniemy raz jeszcze złożyć serdeczne podziękowania wszystkim prelegentom, organizatorom i uczestnikom. Dziękujemy za Waszą ciężką pracę i wsparcie w sukcesie tego raportu. Przekażmy wyniki tego wydarzenia szerszej publiczności i pokażmy światu urok i znaczenie nauk ilościowych. Z niecierpliwością czekamy na kolejne spotkanie w przyszłości i wspólne tworzenie świetlanej przyszłości!
Czas publikacji: 23 maja 2023 r.
