W dniach od 3 do 5 grudnia 2020 r. odbyło się seminarium techniczne na temat „Badania i rozwój precyzyjnych standardowych termometrów cyfrowych” oraz grupa „Metody oceny wydajności precyzyjnych termometrów cyfrowych”, sponsorowane przez Instytut Inżynierii Cieplnej Chińskiej Akademii Metrologii i współorganizowane przez Pan Ran Measurement and Control Technology Co., Ltd. Spotkanie poświęcone kompilacji standardów zakończyło się sukcesem u podnóża góry Tai, szczytu Pięciu Gór!
W spotkaniu biorą udział głównie eksperci i profesorowie z różnych instytutów metrologicznych oraz Chińskiego Uniwersytetu Jiliang. Pan Zhang Jun, dyrektor generalny naszej firmy, został zaproszony do przewodniczenia spotkaniu. Pan Zhang wita wszystkich ekspertów i dziękuje nauczycielom za wieloletnie wsparcie i pomoc dla Pan Ran. Minęły 4 lata od pierwszego spotkania inauguracyjnego termometrów cyfrowych. W tym czasie termometry cyfrowe rozwijały się dynamicznie i stawały się coraz bardziej stabilne. Im wyższy wygląd, tym lżejszy i bardziej zwięzły wygląd, co jest nierozerwalnie związane z szybkim rozwojem technologicznym i wysiłkami wszystkich naukowców. Dziękujemy za Państwa wkład i ogłaszamy rozpoczęcie konferencji.
Podczas spotkania pan Jin Zhijun, adiunkt w Instytucie Inżynierii Cieplnej Chińskiej Akademii Metrologii, podsumował „fazę badawczo-rozwojową wysokoprecyzyjnego standardowego termometru cyfrowego” i przedstawił główne zagadnienia badawcze tego urządzenia. Wyjaśniono konstrukcję, błąd wskazania i stabilność elektrycznych urządzeń pomiarowych, a także wskazano znaczenie i wpływ stabilnego źródła ciepła na wyniki.
Pan Xu Zhenzhen, dyrektor działu badawczo-rozwojowego firmy PANRAN, przedstawił temat „Projektowanie i analiza precyzyjnych termometrów cyfrowych”. Dyrektor Xu przedstawił przegląd precyzyjnych termometrów cyfrowych, strukturę i zasady działania zintegrowanych termometrów cyfrowych, analizę niepewności oraz wydajność w trakcie produkcji. Przedstawiono pięć części oceny i kilka kluczowych zagadnień, a także szczegółowo zaprezentowano projektowanie i analizę termometrów cyfrowych.
Pan Jin Zhijun, adiunkt w Instytucie Inżynierii Cieplnej Chińskiej Akademii Metrologii, przedstawił raport „Podsumowanie testów precyzyjnych termometrów cyfrowych w latach 2016–2018”, przedstawiający wyniki z trzech lat. Qiu Ping, adiunkt w Instytucie Inżynierii Cieplnej Chińskiej Akademii Metrologii, przedstawił „Dyskusję na temat powiązanych zagadnień dotyczących standardowych termometrów cyfrowych”.
Na spotkaniu wymieniono i omówiono również kwestie rozwoju i zastosowania precyzyjnych termometrów cyfrowych, metod oceny precyzyjnych termometrów cyfrowych (normy grupowe), metod testowania precyzyjnych termometrów cyfrowych i planów testowych. Ta wymiana i dyskusja są ważne dla wdrożenia Narodowego Kluczowego Programu Badań i Rozwoju (NQI). W projekcie „Badania i rozwój nowej generacji norm termometrów o wysokiej precyzji”, postęp prac nad „Badaniami i rozwojem precyzyjnych standardowych termometrów cyfrowych”, kompilacja norm grupowych „Metod oceny wydajności precyzyjnych termometrów cyfrowych” oraz wykonalność zastąpienia standardowych termometrów rtęciowych precyzyjnymi termometrami cyfrowymi były bardzo dobre. Duży impuls.
Podczas spotkania eksperci, tacy jak pan Wang Hongjun, dyrektor Instytutu Inżynierii Cieplnej Chińskiego Instytutu Metrologii, w towarzystwie dyrektora generalnego naszej firmy, pana Zhanga Juna, zwiedzili halę wystawową, warsztat produkcyjny i laboratorium firmy, a także zapoznali się z badaniami naukowymi, możliwościami produkcyjnymi i rozwojem firmy. Eksperci pozytywnie ocenili naszą firmę. Dyrektor Wang wyraził nadzieję, że firma, bazując na własnych atutach, będzie mogła stale podnosić poziom badań naukowych i produkcji, a także wnosić większy wkład w krajowy przemysł metrologiczny.
Czas publikacji: 21.09.2022
